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Analizador de impedancia 1,3 GHz IM7585

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1 MHz a 1,3 GHz con velocidad de prueba de 0,5 ms y variabilidad del 0,07%

 

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Descripción

Los medidores y analizadores de impedancia Hioki LCR varían desde dispositivos de 1mHz a 3GHz para adaptarse a una amplia gama de aplicaciones en la prueba de componentes electrónicos. El analizador de impedancia IM7585 ofrece un tiempo de medición superior de 0,5 ms en un rango de frecuencia de 1 MHz a 1,3 GHz y una estabilidad superior, lo que lo hace ideal para I + D, así como para la producción de gran volumen de perlas de chip de ferrita e inductores de chip.

Características principales
• Frecuencia de la fuente de prueba de 1 MHz a 1,3 GHz • Velocidad de prueba más rápida de 0,5 mseg (tiempo de medición analógica) • Variabilidad del valor medido del 0,07% (cuando se mide a 1 GHz) • ± 0,65% lectura. precisión básica • Cuerpo del tamaño de medio rack y cabezal de prueba del tamaño de la palma de la mano • Verificación de contacto completa (mediante prueba DCR, rechazo de Hi-Z o juicio de forma de onda) • Realice barridos de frecuencia, barridos de nivel y mediciones de intervalo de tiempo en el modo Analizador

Opciones de pedido:
IM7585-01 Se incluye un cable de conexión de 1 m
IM7585-02 Se incluye un cable de conexión de 2 m

Especificaciones

Especificaciones básicas (precisión garantizada durante 1 año, precisión de ajuste posterior garantizada durante 1 año)

Modos de medida Modo LCR, modo Analizador (barridos con frecuencia de medición y nivel de medición), modo de medición continua
Parámetros de medida Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Rango medible 100 mΩ hasta 5 kΩ
Rango de visualización Z: 0,00 ma 9,99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0,00 ma 9,99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0,00000 na 9,99999 GH) / Q: ± (0,00 a 9999,99)
θ: ± (0,000 ° a 180.000 °), Cs, Cp: ± (0,00000 pa 9,99999 GF)
D: ± (0,00000 a 9,99999), Y: (0,000 n a 9,99999 GS)
G, B: ± (0,000 na 9,99999 GS), Δ%: ± (0,000% a 999,999%)
Precisión básica Z: ± 0,65% rdg. θ: ± 0,38 °
Frecuencia de medida 1 MHz a 1,3 GHz (resolución de ajuste de 100 kHz)
Nivel de señal de medición Potencia: -40,0 dBm a +1,0 dBm
Voltaje: 4 mV a 502 mVrms
Corriente: 0,09 mA a 10,04 mArms
Impedancia de salida 50 Ω (a 10 MHz)
Monitor TFT a color de 8.4 pulgadas con pantalla táctil
Velocidades de medición RÁPIDO: 0,5 ms (tiempo de medición analógica, valor típico)
Funciones Verificación de contacto, comparador, medición BIN (clasificación), carga / almacenamiento del panel, función de memoria, análisis de circuito equivalente, compensación de correlación
Interfaces EXT I / O (controlador), comunicación USB, memoria USB, LAN, RS-232C (opcional), GP-IB (opcional)
Fuente de alimentación 100 a 240 V CA, 50/60 Hz, 70 VA máx.
Dimensiones y masa Unidad principal: 215 mm (8,46 pulgadas) de ancho × 200 mm (7,87 pulgadas) de alto × 348 mm (13,70 pulgadas) de profundidad, 8,0 kg (282,2 oz)
Cabezal de prueba: 90 mm (3,54 pulgadas) de ancho × 64 mm (2,52 pulgadas) Al × 24 mm (0,94 pulg.) P, 300 g (10,58 onzas)
Accesorios Cabezal de prueba × 1, cable de conexión × 1, manual de instrucciones × 1, disco de aplicación LCR (manual del usuario de comunicaciones) × 1, cable de alimentación × 1

Descargas

Especificaciones: HIOKI IM7585A

Manual de medición de la resistencia

Instrumentos de Medida, S.L. 2021