Instrumentos de Medida, S.L.

Analizador de impedancia IM7585-01 -02 Hioki

Analizador de impedancia IM7585-01 -02 Hioki

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1 MHz a 1,3 GHz con velocidad de prueba de 0,5 ms y variabilidad del 0,07%

 

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El tiempo de entrega será de 2 a 3 semanas aproximadamente

Descripción

Hioki IM7585-01 IM7585-02 Analizador de impedancia RF (1 MHz – 1.3 GHz)

El Hioki IM7585-01 y IM7585-02 son analizadores de impedancia de alta frecuencia (RF) diseñados para aplicaciones avanzadas en producción electrónica y laboratorio, especialmente en componentes SMD y dispositivos de alta frecuencia.

Forman parte de la serie IM7580, posicionándose como equipos de alto rendimiento para mediciones rápidas y precisas en entornos donde la velocidad y la estabilidad son críticas.

¿Qué es el IM7585?

El Hioki IM7585 es un analizador de impedancia que permite medir parámetros eléctricos complejos (LCR, ESR, Q, etc.) en un rango de frecuencia extremadamente alto, desde 1 MHz hasta 1.3 GHz, entrando de lleno en el campo de la electrónica RF. 

Está diseñado para:

  • Producción de componentes electrónicos de alta frecuencia
  • Ensayos de ferritas y chip inductors
  • Aplicaciones RF avanzadas

Diferencia entre IM7585-01 y IM7585-02

  • IM7585-01 → incluye cable de conexión de 1 metro
  • IM7585-02 → incluye cable de conexión de 2 metros

El equipo es idéntico, solo cambia la longitud del cable. 

Características principales

  • Rango de frecuencia: 1 MHz a 1.3 GHz  
  • Velocidad de medición: hasta 0,5 ms  
  • Precisión: ±0,65 %  
  • Variabilidad: 0,07 % (a 1 GHz)  
  • Método de medición: RF I-V  
  • Pantalla táctil TFT de 8,4”
  • Diseño compacto (medio rack + cabezal remoto)

Funciones avanzadas

  • Barrido de frecuencia (sweep)
  • Barrido de nivel
  • Comparator (OK/NG)
  • Clasificación BIN
  • Verificación de contacto (contact check)

Parámetros de medición

El IM7585 permite medir:

  • Impedancia (Z)
  • ESR (Rs)
  • Capacitancia (Cs, Cp)
  • Inductancia (Ls, Lp)
  • Factor de calidad (Q)
  • Tangente de pérdidas (tanδ)
  • Ángulo de fase

Es un equipo completo tipo analizador RF + LCR.

Ventaja clave: alta frecuencia + velocidad

Este equipo destaca por dos factores críticos:

  • Frecuencia hasta 1.3 GHz → ideal para RF
  • Velocidad 0,5 ms → perfecto para producción

Resultado:

Permite realizar mediciones masivas de componentes SMD en líneas automatizadas con alta precisión. 

Aplicaciones principales

  • Producción de inductores SMD
  • Ferritas (chip beads)
  • Componentes RF
  • Electrónica de alta frecuencia
  • Control de calidad automatizado

También es válido para:

  • Laboratorio avanzado
  • I+D en electrónica RF

Compatibilidad y accesorios (muy importante)

No incluye fixture de medida

Necesita:

  • Fixtures SMD (IM9201, IM9202)
  • Kits de calibración (IM9905)
  • Adaptadores RF

Sin estos accesorios, el equipo no puede medir correctamente. 

Diferencia dentro de la gama (clave comercial)

  • IM3570 → hasta 5 MHz (uso general)
  • IM7581 → hasta 300 MHz (RF media)
  • IM7585 → hasta 1.3 GHz (RF avanzada)
  • IM3570 → laboratorio general
  • IM7581 → producción RF estándar
  • IM7585 → alta frecuencia / RF avanzada / máxima exigencia

Resumen

  • Tipo: analizador de impedancia RF
  • Frecuencia: 1 MHz – 1.3 GHz
  • Velocidad: 0,5 ms
  • Uso: producción electrónica + RF
  • Diferencia -01 / -02: longitud de cable

Analizador de impedancia Hioki IM7585 hasta 1.3 GHz con medición ultrarrápida de 0,5 ms. Ideal para RF y producción de componentes electrónicos. Modelos -01 y -02.

Los medidores y analizadores de impedancia Hioki LCR varían desde dispositivos de 1mHz a 3GHz para adaptarse a una amplia gama de aplicaciones en la prueba de componentes electrónicos. El analizador de impedancia IM7585 ofrece un tiempo de medición superior de 0,5 ms en un rango de frecuencia de 1 MHz a 1,3 GHz y una estabilidad superior, lo que lo hace ideal para I + D, así como para la producción de gran volumen de perlas de chip de ferrita e inductores de chip.

Características principales
• Frecuencia de la fuente de prueba de 1 MHz a 1,3 GHz • Velocidad de prueba más rápida de 0,5 mseg (tiempo de medición analógica) • Variabilidad del valor medido del 0,07% (cuando se mide a 1 GHz) • ± 0,65% lectura. precisión básica • Cuerpo del tamaño de medio rack y cabezal de prueba del tamaño de la palma de la mano • Verificación de contacto completa (mediante prueba DCR, rechazo de Hi-Z o juicio de forma de onda) • Realice barridos de frecuencia, barridos de nivel y mediciones de intervalo de tiempo en el modo Analizador

Opciones de pedido:
IM7585-01 Se incluye un cable de conexión de 1 m
IM7585-02 Se incluye un cable de conexión de 2 m

Información adicional

Modelo

IM7585-01, IM7585-02