Perfilómetro óptico 2D y 3D

Perfilómetro óptico 2D y 3D Chroma.

Perfilómetro 2D y 3D

Perfilómetro óptico 2D y3D

Características principales:

  • Resolución en medición de altura hasta 0,1 nm
  • Utiliza técnica de medición de interferencia de luz blanca para hacer la medición rápida no destructiva de la textura superficial y análisis
  • Diseño modular, seleccion de módulos dependiendo de las demandas de ensayo o presupuesto reducido
  • Trabaja con la cámara a color o monocromo para hacer la medición 2D y activar la función de microscopio de medición
  • Equipado con engranajes eléctricos para montar diferentes lentes e intercambiarlas por programa
  • Selección de fuente de luz halógena o LED
  • Rango de medición de 150 mm x 150 mm
  • Integra lente de baja magnificación (relación de 5X y 2,5X) para medición 3D en áreas grandes
  • Proporciona varios parámetros de medición de superficie, tales como la diferencia en corte, ángulo incluido, área, dimensión, rugosidad, ondulación, espesor de la muestra y planitud
  • Equipado con punto oscuro y algoritmos de corrección de errores de contorno
  • Interfaz de usuario amigable, sistema de control gráfico sencillo y visualización de gráficos 3D
  • Formato de archivo intercambiable para guardar y leer varios formatos de archivo de perfil 3D
  • Potente STA (Analysis de textura superficial) Master software de gran alcance que proporciona más de 150 líneas y parámetros de perfil de superficies
  • Auto calibración rápida automatizada para asegurar la capacidad de medición del sistema
  • Proporciona la escritura de medición para la prueba de auto test

Perfilómetro óptico 2D y 3D desarrollado utilizando la tecnología de interferencia de la luz blanca para medir y analizar el perfil de la superficie de las estructuras micro-nano con sistema de escaneo y algoritmos innovadores. Se puede trabajar con la cámara a color o monocromo como se requiere para mediciones 2D y microscopio.

El último diseño de sistema modular  del perfilómetro óptico 2D y 3D de Chroma 7503 cuenta con configuraciones flexibles que puedan cumplir con aplicaciones de prueba diversificadas. Cuando está equipado con el engranaje eléctrico se pueden montar un máximo de 5 tipos de lentes que se accionan directamente para su uso sin necesidad de cambios manuales. Además, la plataforma móvil de ajuste eléctrico es capaz de ajustar y posicionar la muestra automáticamente. El amplio alcance de detección de eje vertical y horizontal es aplicable para varias mediciones automáticas no destructiva y rápida de textura de la superficie. El análisis se puede realizar sobre la muestra sin ningún procesamiento previo que es lo más adecuado para I + D, producción, mejora de procesos e investigación académica.

La resolución de la altura Chroma 7503 es de hasta 0,1 nm y puede alcanzar 100 mm cuando el eje vertical Z se utiliza para medir el desplazamiento de barrido. También el eje horizontal es capaz de alcanzar una resolución sub-micro de hasta 150 x 150 mm cuando se utiliza un PC para controlar la plataforma móvil. El procedimiento de calibración y el algoritmo de teoría permiten que el resultado de la calibración del sistema cumpla la norma NIST. En combinación con varios algoritmos innovadores, robustos y fiables,  el  7503 tiene calidad de medición de alta precisión y gran escala.

La plataforma de escaneo automático configurado es capaz de encontrar la mejor posición de enfoque a través de la plataforma móvil de eje vertical automatizado con un algoritmo de enfoque automático rápido. Por otra parte, la plataforma de ajuste de la inclinación es capaz de nivelar la unidad bajo prueba dentro de unos pocos segundos sin operaciones complejas.

Ver hoja de datos Chroma 7503_data_sheet-idm